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多层片状陶介电容器具体不良可分为哪些

文章出处:作者:人气:-发表时间:2020-12-23 15:46:00

  多层片状陶介电容器由陶瓷介质、端电极、金属电极三种材料构成,失效形式为金属电极和陶介之间层错,电气表现为受外力(如轻轻弯曲板子或用烙铁头碰一下)和温度冲击(如烙铁焊接)时电容时好时坏。

  多层片状陶介电容器具体不良可分为:

  1、热击失效

  2、扭曲破裂失效

  3、原材失效三个大类

  2、热击失效模式:

  热击失效的原理是:在制造多层陶瓷电容时,使用各种兼容材料会导致内部出现张力的不同热膨胀系数及导热率。当温度转变率过大时就容易出现因热击而破裂的现象,这种破裂往往从结构最弱及机械结构集中时发生,一般是在接近外露端接和中央陶瓷端接的界面处、产生最大机械张力的地方(一般在晶体最坚硬的四角),而热击则可能造成多种现象: 

  第一种形如指甲狀或U-形的裂縫和第二种隐藏在内的微小裂缝,两者的区别只是后者所受的张力较小,而引致的裂缝也较轻微。第一种引起的破裂明显,一般可以测出,第二种只有在发展到一定程度后才可测。

陶瓷电容

  2、扭曲破裂失效

  此种不良的可能性很多:按大类及表现可以分为两种:

  第一种情况、SMT阶段导致的破裂失效

  当进行零件的取放尤其是SMT阶段零件取放时,取放的定中爪因为磨损、对位不准确,倾斜等造成的。由定中爪集中起来的压力,会造成很大的压力或切断率,继而形成破裂点。

  这些破裂现象一般为可见的表面裂缝,或2至3个电极间的内部破裂;表面破裂一般会沿着最强的压力线及陶瓷位移的方向。

  第二种、SMT之后生产阶段导致的破裂失效

  电路板切割﹑测试﹑背面组件和连接器安装﹑及最后组装时,若焊锡组件受到扭曲或在焊锡过程后把电路板拉直,都有可能造成‘扭曲破裂’这类的损坏。

  在机械力作用下板材弯曲变形时,陶瓷的活动范围受端位及焊点限制,破裂就会在陶瓷的端接界面处形成,这种破裂会从形成的位置开始,从45°角向端接蔓延开来。

  3、材料失效

  多层陶瓷电容器通常具有2大类类足以损害产品可靠性的基本可见内部缺陷:

  电极间失效及结合线破裂燃烧破裂。

  这些缺陷都会造成电流过量,因而损害到组件的可靠性,详细说明如下:

  1、电极间失效及结合线破裂主要由陶瓷的高空隙,或电介质层与相对电极间存在的空隙引起,使电极间是电介质层裂开,成为潜伏性的漏电危机;

  2、燃烧破裂的特性与电极垂直,且一般源自电极边缘或终端。假如显示出破裂是垂直的话,则它们应是由燃烧所引起。

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