铝电解电容散逸因素大小的试验测试
文章出处:作者:人气:-发表时间:2019-01-14 17:34:00
铝电解电容损失角,又称散逸因素,代号DF,是负电荷经负极及电解液传至化成膜表面所消耗的这一部分电能,通俗地说:DF=tanØ=ESR/XC,式中ESR为电容等效串联内阻,XC为容抗,XC=1/2πFC,式中F为测试频率,C为电容器静电容量。
损耗角的正切(TAN),相当于无功功率和有功功率的比值,这个值跟电容的品质以及发热量有关系,这个值越小电容性能越好。.漏电流值:无论绝缘体多大,总是会有细微的电流漏过电容,这个值则代表具体漏过的多少。 此外,ESL特性也是电容的性能指标之一。但是随着电容技术的发展,现在的高档电解电容,其ESL特性一般都很好,到10MHz、20MHz以上的时候往往才能体现出区别,因此也就失去了比较的意义。
我们在实际测试中,所用仪表一般为LCR表,其内部之方法实际上为阻抗量测方式,所以称为阻抗表,其方法为先测出阻抗之大小及角度,再利用此参数去计算DF值等其它参数。
我们知道同一批电容之静电容量误差可达±20%,当ESR相同时,DF却有±20%之变数,同时电容器DF值与ESR成正比且直接影响寿命,DF却不能直接反映电容器之损失。
在频率测试上,我们应关心高频之损失,ESR随频率增加而减小,代表损失减少,然而DF却因频率增加而增加,完全不能反映电容器实际之损失,故参数之量测应以ESR或│Z│为主才是。
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