压敏电阻的老化失效
压敏电阻的老化失效问题,这一问题主要指的是电阻体的低阻线性逐步加剧,此时漏电流将会恶性增加且集中注入薄弱点。
导致薄弱点材料融化,形成一千欧左右的短路孔后,电源继续推动一个较大的电流灌入短路点,形成高热而起火。
研究结果表明,若压敏电阻存在着制造缺陷,易发生早期失效,强度不大的电冲击的多次作用也会加速老化过程。
使老化失效提早出现,而压敏电阻器出现暂态过电压破坏则是一个短时间内造成器件损坏的情况。
所谓的暂态过电压破坏,指的是短时间内出现较强的暂态过电压使电阻体穿孔,导致更大的电流而高热起火,整个过程在较短时间内发生。
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