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[电子器件常见问题]压敏电阻的失效保护[ 2023-05-25 09:21 ]

压敏电阻器的失效模式通常是短路。为了防止变阻器故障引起短路和火灾,可在每一个变阻器之上串联一个温度安全管或热隔离机构。温度保险丝应与压敏电阻有良好的热耦合。压敏电阻器发生故障（高阻抗短路）时,其产生的热量会烧断热保险丝,从而将发生故障的压敏电阻器与电路隔离,保证了设备的安全。当高电源频率的暂时过电压作用在压敏电阻上时,压敏电阻可能会暂时失效而短路（低阻抗短路）,热保险丝可能在烧断以前就着火。为了避免这种现象,一个抗冲击工频熔断器可以与每个压敏电阻器串联(单一的工频熔断器由于老化而不能爆炸)。

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[电子器件常见问题]铝电解电容失效模式与因素[ 2023-05-23 10:00 ]

铝电解电容器质量没有问题的时候,失效问题就发生在应用环境之中。铝电解电容器设计的应用环境主要包括环境温度、散热方式、电压、电流参数等。对于电容器用户来说,短路、开路是灾难性的故障,或者说是致命的故障,使电容器失去了功能。其他几种失效模式（即由第二个因素引起的失效）一般分类为退化失效或消耗失效。

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[电子器件常见问题]铝电解电容失效模式与因素[ 2023-05-23 09:59 ]

铝电解电容器质量没有问题的时候,失效问题就发生在应用环境之中。铝电解电容器设计的应用环境主要包括环境温度、散热方式、电压、电流参数等。对于电容器用户来说,短路、开路是灾难性的故障,或者说是致命的故障,使电容器失去了功能。其他几种失效模式（即由第二个因素引起的失效）一般分类为退化失效或消耗失效。

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[电子产品动态]电容器的失效模式与机理[ 2023-04-20 11:11 ]

电子元器件的主要失效模式包括开路、短路、燃烧、爆炸、漏电、功能性故障、电参数漂移、不稳定失效等。如,一个半导体元件看似完整,但实际上需要大量的时间来调整硬件电路,有时甚至会发生爆炸。今天我们主要讲的是电容、电阻和电感。防止电容器过电压失效,电容器在过电压条件之下很容易击穿,实际应用之中经常出现瞬时高电压。选用瞬态过电压性能好的电容器,并找原厂制作安全可靠的电容器。

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[电子器件常见问题]压敏电阻失效模式的三种方式[ 2023-02-17 17:53 ]

第一种老化表现为漏电流增大,压敏电压明显下降,直至为零。解决方案是在使用压敏电阻时串联适当的断路器和保险丝,以避免短路事故。老化失效是指电阻体的低电阻线性化逐渐加剧,漏电流恶性增加,集中流入弱点,弱点材料熔化,形成约1k短路孔后,电源继续推动大电流进入短路点,形成高热和火灾。临时过电压损伤是指强临时过电压穿孔电阻体,导致更大的电流高热火灾。

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[电子器件常见问题]压敏电阻的失效模式的方式[ 2023-01-03 16:13 ]

第一种老化表现为漏电流增大,压敏电压显着下降,直至为零。老化失效,这是指电阻体的低阻线性化逐步加剧,漏电流恶性增加且集中流入薄弱点,薄弱点材料融化,形1k左右的短路孔后,电源继续推动一个较大的电流灌入短路点,形成高热而起火。临时过电压破坏是指强临时过电压穿孔电阻体,导致更大的电流高热起火。整个过程在较短时间内发生,以至电阻体上设置的热熔接点来不及熔断。

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[电子器件常见问题]铝电解电容器的失效机理[ 2022-09-13 16:14 ]

铝电解电容器正极是高纯铝,电介质是在金属表面形成的三氧化二铝膜,负极是黏稠状的电解液,工作时相当一个电解槽。铝电解电容器常见失效模式有：漏液、爆炸、开路、击穿、电参数恶化等。

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[电子器件常见问题]铝电解电容器的开路击穿失效[ 2022-09-13 16:13 ]

铝电解电容器在高温或潮热环境中长期工作时可能出现开路失效,其原因在于阳极引出箔片遭受电化学腐蚀而断裂。对于高压大容量电容器,这种失效模式较多。此外,阳极引出箔片和阳极箔铆接后,未经充分平,则接触不良会使电容器出现间歇开路。铝电解电容器内采用以DMF（二甲基酰胺）为溶剂的工作电解液时,DMF溶液是氧化剂,在高温下氧化能力更强。工作一段时间后可能因阳极引出箔片与焊片的铆接部位生成氧化膜而引起电容器开路。如果采用超声波焊接机把引出箔片与焊点在一起,可则减少这类失效现象。

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[根栏目]压敏电阻使用时的注意事项[ 2022-09-08 16:17 ]

压敏电阻的失效模式通常是短路,为了防止压敏电阻的失效造成电源短路而起火,可以在每个压敏电阻上串联一个温度保险管或热脱离机构。温度保险管应与压敏电阻有良好的热耦合,当压敏电阻失效(高阻抗短路)时,它所产生的热量把温度保险管熔断,从而使失效的压敏电阻与电路分离,确保设备的安全。当较高的工频暂时过电压作用在压敏电阻上时,可能使压敏电阻瞬间击穿短路(低阻抗短路),而温度保险管还来不及熔断,还可能起火。

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[电子器件常见问题]压敏电阻失效的三种模式[ 2022-02-22 16:57 ]

压敏电阻的失效模式有三种：第是劣化，表现为泄漏电流增加，压敏电阻电压显著下降，直至为零。如果过电压引起的浪涌能量过大，超过了所选变阻器限值的承载能力，变阻器抑制过电压时会出现陶瓷爆裂现象。第三种穿孔，如果峰值过电压特别高，压敏电阻的大多数故障模式都会退化。解决方法是在使用变阻器时，将合适的断路器或熔断器串联在变阻器上，以避免短路引起的事故。

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[电子器件常见问题]压敏电阻的使用与失效模式[ 2021-11-26 17:02 ]

设计的防雷装置必须在现场工作条件或尽可能接近真实情况的模拟条件下进行测试和验证。变阻器的标称放电电流应大于要求的浪涌电流或每年可能出现的最大浪涌电流。标称放电电流应根据变阻器浪涌寿命额定曲线中10次以上的冲击值计算，约为最大脉冲磁通的30%；当一个变阻器不能满足标称放电电流的要求时，应并联使用多个变阻器。有时，为了降低限制电压，即使标称放电电流满足要求，也要并联多个压敏电阻。

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[电子器件常见问题]导电材料结构变化的失效模式[ 2021-10-28 16:35 ]

从热力学的观点来看，非晶态结构倾向于结晶。可以认为，在电阻器工作期间，这两个过程以近似恒定的速度进行。与之相关的电阻变化占原始电阻的千分之几。直流负载-电解：在直流负载下，电解导致电阻器老化。湿热环境下的直流负载试验可以综合评价电阻基体材料和薄膜的抗氧化性或抗还原性，以及保护层的防潮性能。

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[电子器件常见问题]压敏电阻的失效模式的三种方式[ 2021-09-22 17:10 ]

第一种老化表现为漏电流增大，压敏电压显着下降，直至为零。老化失效，这是指电阻体的低阻线性化逐步加剧，漏电流恶性增加且集中流入薄弱点，薄弱点材料融化，形1k左右的短路孔后，电源继续推动一个较大的电流灌入短路点，形成高热而起火。临时过电压破坏是指强临时过电压穿孔电阻体，导致更大的电流高热起火。整个过程在较短时间内发生，以至电阻体上设置的热熔接点来不及熔断。

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[电子器件常见问题]电容器失效模式与机理[ 2021-08-19 16:34 ]

电子部件的主要故障模式包括开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能故障、电参数漂移、非稳定故障等。例如，一个半导体部件外观完整，但实际上半故障或全故障需要很多时间来调整硬件电路，有时甚至爆炸机。今天主要说的是电容、电阻和电感。电容过电压失效的防范，电容器在过压状态下容易被击穿，而实际应用中的瞬时高电压是经常出现的。选择承受瞬时过电压性能好的电容器，找原厂制造安全可靠。

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[电子器件常见问题]铝电解失效模式及其引发原因分析[ 2021-04-08 16:30 ]

当铝电解电容器的工作电压过高，或氧化膜介质有许多缺陷，或存在氯化物、硫酸盐等有害阴离子时，使泄漏电流较大时，电解产气速率较快。工作时间越长，泄漏电流越大，壳体内气体越多，温度越高。随着工作电压和工作时间的增加，电容器金属外壳内外压差增大。如果密封良好，没有防爆措施，当气压升高到一定程度时，电容器就会爆炸。目前，防爆壳体结构已得到广泛应用。工艺缺陷也是铝电解电容器故障的主要原因。

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[电子器件常见问题]陶瓷电容失效模式之三原材料失效[ 2021-03-16 16:24 ]

电极间失效及结合线破裂主要由陶瓷的高空隙，或电介质层与相对电极间存在的空隙引起，使电极间是电介质层裂开，成为潜伏性的漏电危机。

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[电子器件常见问题]热击失效多层陶瓷电容失效模式之一[ 2021-03-16 15:24 ]

热击失效的原理是：在制造多层陶瓷电容时，使用各种兼容材料会导致内部出现张力的不同热膨胀系数及导热率。当温度转变率过大时就容易出现因热击而破裂的现象，这种破裂往往从结构最弱及机械结构最集中时发生，一般是在接近外露端接和中央陶瓷端接的界面处、产生最大机械张力的地方。

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[电子器件常见问题]哪些因素会对钽电容的正常应用产生影响呢？[ 2021-03-09 15:46 ]

钽电容常见的失效模式有击穿，烧毁或爆炸，特别是在开关电源或其它专用电源电路中。冲击电压对钽电容的影响：电源在启停瞬间通常会有很高的冲击电压，尤其是低阻抗电路中，这些冲击电压通常能达到电源额定输出电压的1.5~3倍。

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[电子产品动态]瓷介电容的失效类型有哪些，其原因是什么？[ 2021-03-04 16:05 ]

多层瓷介电容器的失效模式和失效机理众多，按照电参数表现来看，失效模式可以分为三种：开路、短路和电参数漂移。