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薄膜电阻常见的失效形式

文章出处:作者:人气:-发表时间:2020-06-30 17:01:00

   薄膜电阻常见的失效形式
  一、失效机理剖析
  电阻器失效机理是多方面的,工作条件或环境条件下所发作的各种理化过程是引起电阻器老化的缘由。
  1、氧化
  氧化是长期起作用的要素(与吸附不同),氧化过程是由电阻体外表开端,逐渐向内部深化。除了贵金属与合金薄膜电阻外,其他材料的电阻体均会遭到空气中氧的影响。氧化的结果是阻值升高。电阻膜层愈薄,氧化影响就更明显。避免氧化的基本措施是密封(金属、陶瓷、玻璃等无机资料)。采用有机资料(塑料、树脂等)涂覆和灌封,不能完整避免维护层透湿或透气,虽能起到延缓氧化或吸附气体的作用,但也会带来与有机维护层有关的些新的老化要素。

薄膜电阻
  2、有机维护层的影响
  有机维护层构成过程中,放出缩聚作用的挥发物或溶剂的蒸气。热处置过程使局部挥发物扩散到电阻体中,惹起阻值上升。此过程虽可持续1~2年,但是显著影响阻值的时间约为2~8个月,为了保证废品的阻值稳定性,把产品在库房中放置一段时间再出厂是比拟适合的。
  3、机械损伤
  电阻的牢靠很大水平上取决于电阻器的机械性能。电阻体、引线帽和引出线等均应具有足够的机械强度,基体缺陷、引线帽损坏或引线断裂均可招致电阻器失效。
  4、银电极硫化腐蚀招致开路
  脱焊拆卸后的电阻器外观与X-ray透视发现电极处断开。

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