漏电流是铝电解电容器最大的损坏问题之一，因为漏电流会造成电解液流失，导致铝电解电容器过早干燥失效。铝电解电容器在长时间无电压储存时，其电解液中的氯离子会对氧化铝介质膜造成最大的破坏，特别是在高温储存后接通电压时，会造成高于正常值的泄漏电流。同时，铁、铜离子的伽伐尼效应逐渐恢复，使得铝电解电容器的漏电流需要很长时间才能通过施加电压恢复。一般情况下，铝电解电容器使用后最好通电。

电解电容是最常用的电子元件之一，但是电解电容的一些问题一直困扰着大家。这也是阻碍片式电解电容器发展的关键。让 浅谈电解电容器的漏电流及其解决方法。漏电流是铝电解电容器最大的损坏问题之一，因为漏电流会造成电解液流失，导致铝电解电容器过早干燥失效。因此，使用SMD电解电容的厂商会特别注意漏电流问题。

如果长时间放置的铝电解电容器不通电，第一次通电时的漏电流可能是正常值的100倍。电容器在储存超过2年后是否能承受如此高的初始漏电流是一个问题。因此，在电路中安装铝电解电容器之前，最好先执行铝电解电容器的激活程序。另外，当带电容的电路达到或超过贮存寿命时，电容应空载工作一小时。为了防止过量的漏电流和纹波电流使铝电解电容器过热“泥爆”事故时，电容器的漏电流可以恢复。可以看出，装有铝电解电容器的电路在贮存前应每年通电一次，每次通电几个小时，以保证铝电解电容器在继续贮存时电路中的性能。

铝电解电容器在长时间无电压储存时，其电解液中的氯离子会对氧化铝介质膜造成最大的破坏，特别是在高温储存后接通电压时，会造成高于正常值的泄漏电流。但随着使用中氧化层的再生，漏电流会逐渐降低到正常值。同时，铁、铜离子的伽伐尼效应逐渐恢复，使得铝电解电容器的漏电流需要很长时间才能通过施加电压恢复。这个过程称为老化或授权。一般情况下，铝电解电容器使用后最好通电。