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电容器
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陶瓷电容的失效因素

文章出处:作者:人气:-发表时间:2018-01-04 14:58:00

  多层陶瓷电容器本身的内在可靠性十分优良,可以长时间稳定使用,但如果器件本身存在缺陷或在组装过程中引入缺陷,则会对其可靠性产生严重影响。


  内在因素主要有:分层,机械应力裂纹,多层陶瓷电容器的烧结为多层材料堆叠共烧,烧结温度可以高达1千度以上。


  层间结合力不强,烧结过程中内部污染物挥发,烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生,分层和空洞、裂纹的危害相仿,为重要的多层陶瓷电容器内在缺陷。


  导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染,烧结过程控制不当等。

 

多层陶瓷电容

 


  空洞的产生极易导致漏电,而漏电又导致器件内部局部发热,进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加。


  该过程循环发生,不断恶化,严重时导致多层陶瓷电容器开裂、爆炸,甚至燃烧等严重后果。
 


  外部因素主要为:机械应力裂纹,多层陶瓷电容器的特点是能够承受较大的压应力。


  但抵抗弯曲能力比较差。器件组装过程中任何可能产生弯曲变形的操作都可能导致器件开裂。


  多层陶瓷电容器通过标准验证,具有耐热性、抗振性等高可靠性特点,可以在125℃~150℃温度下稳定工作。


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